測定元素 | Si (用戶提供標準樣品,日立工程師幫助用戶在機器上建立校準曲線) |
測量單位 | g/m2 |
預設校準曲線范圍(根據標樣) | 0.3~1.6 g/m2 |
樣品狀態 | 紙張,薄膜 |
分析時間 | 用戶可自定義分析時間,典型分析時間是10-300秒。分析結果動態顯示功能 |
X射線激發 | 激發電壓30kV,750uA,最大功率3瓦,Pd靶X射線管 |
X射線檢測 | 高分辨率硅漂移檢測器SDD,分辨率優于160eV,可實現多元素檢測,無需濾光片即可分開相近元素 |
主要硬件特點 | -不需要氦氣 -空氣壓力自動校正機構 -樣品溫度自動校正機構 |
數據處理系統 | 集成式多通道能量分析器和數據處理系統 |
分析軟件 | 應用于日常分析、再標準化校正、定性分析、定量分析、以及全部的X射線校正模式;日常維護和再標準化校正自動提醒功能 多項自動校正功能:實驗室空氣壓力校正 |
數據顯示和存儲 | 7英寸工業觸屏集成電腦,分辨率480 (H) x 800 (V) ;3個標準USB接口,可實現U盤數據傳輸;主機內存可儲存十萬個測試數據及譜圖信息 |
電源要求 | 100 – 240 V, 47 / 63 Hz |
外形尺寸和重量 | 長寬高:440X520X155mm,重量16Kg |
儀器使用條件 | 實驗室環境溫度:10 - 35℃,濕度小于80%,無冷凝水環境 |